基本信息
| 标准名称： | 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定 |
| 英文名称： | Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content |
| 中标分类： | 冶金 >> 金属化学分析方法 >> 贵金属及其合金分析方法 |
| ICS分类： | 冶金 >> 金属材料试验 >> 金属材料试验综合 |
| 替代情况： | 被GB/T 17473.1-2008代替 |
| 发布部门： | 国家质量技术监督局 |
| 发布日期： | 1998-08-19 |
| 实施日期： | 1999-03-01 |
| 首发日期： | 1998-08-19 |
| 作废日期： | 2008-09-01 |
| 主管部门： | 中国有色金属工业协会 |
| 归口单位： | 全国有色金属标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 昆明贵金属研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-15 |
| 页数： | 平装16开， 页数：5， 字数：5千字 |
| 书号： | 155066.1-15489 |
适用范围
本标准规定了贵金属浆料中固体含量的测试方法。本标准适用于各种贵金属浆料中固体含量的测定。非贵金属浆料中固体含量的测定亦可参照使用。
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类： 冶金 金属化学分析方法 贵金属及其合金分析方法 冶金 金属材料试验 金属材料试验综合